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快速升降溫試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設計缺陷和工藝問題的有效方法。

高低溫快速升降溫試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設計缺陷和工藝問題的有效方法。

快速溫變老化試驗箱主要用于考察各種工業(yè)制品熱機械性能引起的失效，當構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應力較大時，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。

快速溫變測試箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設計缺陷和工藝問題的有效方法。

快速溫變應力試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設計缺陷和工藝問題的有效方法。