熱門(mén)搜索：兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱,全光譜太陽(yáng)輻射試驗(yàn)箱,液槽溫度沖擊試驗(yàn)箱...
您好，歡迎訪(fǎng)問(wèn)東莞市賽思檢測(cè)設(shè)備有限公司！ 咨詢(xún)熱線(xiàn)：18926849868
Product category
Related articles
您的位置：網(wǎng)站首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 氣候試驗(yàn)箱 > HAST高壓加速壽命試驗(yàn)箱
HAST高壓加速壽命試驗(yàn)箱*主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體。
PCT蒸煮壽命試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體。
電話(huà)0769-82863486
傳真86-0769-82863487 
郵箱flora187@126.com
公司地址廣東省東莞市常平鎮(zhèn)九江水石路街2號(hào)1號(hào)樓
在線(xiàn)交流